极片污染对X荧光测硫仪的测量有什么影响？
更新时间：2023-02-14 点击次数：73次
X荧光测硫仪主要用于测量石油及其制品（及其他液体）中S的含量，也能测量煤、碳黑等固体材料中的全硫（S）的含量。采用小型X光管做激发源，不含同位素放射源；采用薄窗充气正比计数管和特殊的光路系统。
X荧光测硫仪具有一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品、无需化学试剂、大屏幕中文显示、冷阴背光液晶、人机对话方式操作、数据储存能力大、App功能强等。
X荧光测硫仪采用一次性样品杯，造价低，可避免样品交叉污染；样品制作快捷方便，不易泄露；采用单面膜样品杯，可在样品杯背面记录样品浓度、号码、日期等。
X荧光测硫仪可以根据用户需要，将测量的原始数据，测量结果，测量报告存入App内置数据库长期保存以便日后查看，避免用户繁琐的测量数据维护工作；测量结果也可以导出为谱图、word文档、excel表格，pdf文档等多种形式，由用户自行管理。
利用X荧光强度比率，连续测参考样几次，取其平均值，在半小时内应用。含量分析时，就直接测待测样，这样既保证高的测量准确度，又缩短了待测样分析时间，还简化了分析操作步聚。
因为X荧光测硫仪结果不稳定或偏低时常常因为极片的污染所致。在标定校准前期，一定检查极片的亮度，如果非常亮就表示干净无需清理，如果发淡黄，或者乌黑就要用小刀片刮亮（或者用乙醇擦拭）并检查通讯信号线是否导通。如果在极片被污染情况下标定，一定标定不准，徒劳无功。
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